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多接口 SSD 自动断电设备

主要用于SSD成品研发、验证、抽查测试。
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分离式 SSD RDT测试老化柜

此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高温RDT老化测试,左右独立柜体,配置360W独立开关电源,12V转5V测试板卡,单柜可测300PCS,整机可测600PCS产品,提升设备使用率,测试数量支持定制。
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全自动多功能高速摆盘机

可用于市面上90%的MCU、主控IC、DDR、FLASH、黑胶体等规格芯片摆盘,可定制特殊规格芯片;兼容市面上常用的黑盘或吸塑盘,自动堆叠摆放,帮助封装测试厂商解决一机多功能摆盘工作。
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可程式高低温 SSD BIT老化试验箱

此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高/低温湿度老化测试,或用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温湿度老化测试。
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常温BIT测试老化柜

设备可用于SSD固态硬盘进行批量性老化测试,电脑采用市场主流配置,单柜可同时测试48个产品,提升测试效率,整机美观大方,提升公司形象。(图片产品已配置了电脑,可接受客户提供电脑安装。)
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四端口智能AC控制设备

1、支持随机断电测试。2、断电时间自由设置3、断电模式可随机可受控4、 断电次数自动记录,直接显示5、受控断电模式可以保留报错的瞬间,方便Debug6、全部采用工业级要求设计
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高精度 SSD RDT高温测试柜

此设备广泛应用于PCB电路板、电源电子、电脑产品、通讯、生物制药、仪器仪表,航天材料、汽车部件、橡塑轮胎、太阳能逆变器等领域产品的模拟在高温环境下的老化筛选试验
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988.00 广东深圳

PCIE开卡器 3.0 4.0 HUB 4 port

DC 5V 2A-3A 支持电脑大4PIN 电源输入口,PCIE port 支持自动精准定位,PCIE port 连接口独立分开轻松固定开卡与更换不影响主板,PCIE port 对应独立指示灯,PCIE port 对应独立电源开关
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USB转NVME PCIE M.2 NGFF接口转接板

JM583桥接芯片 USB3.0接口 带独立开关 防短路 兼容性强,单独加贴二极管防止电流倒灌,3.3V 4A电流,可用于NVME SSD开卡 量产测试 接上硬盘可当移动硬盘使用