BIT测试箱
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可程式高低温 SSD BIT老化试验箱
此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高/低温湿度老化测试,或用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温湿度老化测试。
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常温BIT测试老化柜
设备可用于SSD固态硬盘进行批量性老化测试,电脑采用市场主流配置,单柜可同时测试48个产品,提升测试效率,整机美观大方,提升公司形象。(图片产品已配置了电脑,可接受客户提供电脑安装。)
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可程式高低温SSD老化试验箱
此设备用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温老化测试,可加速老化寿命试验的目的缩短产品或系统的寿命试验时间,测试其封装引脚、金属区域、芯片质量的可靠性。此设备可同时进行高温BIT测试、高低温交替BIT测试试验。