BIT测试箱
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可程式高低温SSD老化试验箱
此设备用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温老化测试,可加速老化寿命试验的目的缩短产品或系统的寿命试验时间,测试其封装引脚、金属区域、芯片质量的可靠性。此设备可同时进行高温BIT测试、高低温交替BIT测试试验。
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SATA SSD BIT常温测试柜
192口SATA接口常温BIT测试柜,单口最大速度550MB/S,满载同时工作时最高速度550MB/S。 共8台电脑,每台电脑同时测试24个SSD。 可配合自动测试软件一键操作。 每个端口带保护座,座子坏了直接换保护板。 每个端子配12V转5V3A供电,提供充足的工作电流,并带短路过流过热保护