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金士通SSD智能测试仪
KST-600L集成了SATA 2.5、NGFF、PCIe M.2三合一接口,一次可测试560个口,并支持35种测试方案。全程自动化,K1-RDT-K2-BIT(H2)-K3只需插拔一次,将原本需要5个工作站的全流程测试整合到一个工作站中,提高生产效率,降低生产成本。
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PCIE SSD BIT测试柜
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周转式高温RDT测试老化柜
提供环境温度至150℃测试环境,RDT接口980口,单独柜体,快拆式层板、大功率导电铜柱、配周转车,节约换线时间,提升生产效率和设备稼动率。
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高精度 SSD RDT高温测试柜
此设备广泛应用于PCB电路板、电源电子、电脑产品、通讯、生物制药、仪器仪表,航天材料、汽车部件、橡塑轮胎、太阳能逆变器等领域产品的模拟在高温环境下的老化筛选试验
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USB转SATA接口转接板(新一代主控兼容性更强)
详硕1153E 桥接芯片 3.0接口 带单独开关 防短路 兼容性强,单独加贴二极管防止倒灌电流,可用于SSD 量产开卡 接上硬盘可当移动硬盘使用
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全自动多功能高速摆盘机
可用于市面上90%的MCU、主控IC、DDR、FLASH、黑胶体等规格芯片摆盘,可定制特殊规格芯片;兼容市面上常用的黑盘或吸塑盘,自动堆叠摆放,帮助封装测试厂商解决一机多功能摆盘工作。
商品描述
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品牌
闪德半导体
可售卖地
全国
规格
10*10cm
型号
S1
设备功能
采用SMI-SM2258XT/59XT方案,可以兼容BGA132/152等多种封装闪存芯片测试。
功能一 , 更换限位框,可测12*18或14*18等尺寸产品;
功能二,可以同时插拔两个翻盖弹片的BGA132的测试座,同时测试2颗FLASH芯片;
工业工作温度范围:0-100°C
操作系统:Windows、MAC OS、Linux操作系统
设备特点
132球SSD芯片flash soting测试RDT 读写数据 芯片开卡 测试速度等等,4A电流可以测单颗1024GB大容量芯片,双通道 SATA3 电压多种切换 JPIO带排拨码开关,耐70度高温测试.
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