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周转式高温RDT测试老化柜
提供环境温度至150℃测试环境，RDT接口980口，单独柜体，快拆式层板、大功率导电铜柱、配周转车，节约换线时间，提升生产效率和设备稼动率。
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480口 SSD RDT+BIT高温测试柜
定时装置：烤箱0-99小时定时范围，可用于开机计时，恒温计时，计时结束自动报警，单位可以设置为小时、分钟、秒。该功能在触摸屏内打开或关闭。
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可程式高低温 SSD BIT老化试验箱
此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高/低温湿度老化测试，或用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温湿度老化测试。
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分离式 SSD RDT测试老化柜
此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高温RDT老化测试，左右独立柜体，配置360W独立开关电源，12V转5V测试板卡，单柜可测300PCS，整机可测600PCS产品,提升设备使用率，测试数量支持定制。
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全自动多功能高速摆盘机
可用于市面上90%的MCU、主控IC、DDR、FLASH、黑胶体等规格芯片摆盘，可定制特殊规格芯片；兼容市面上常用的黑盘或吸塑盘，自动堆叠摆放，帮助封装测试厂商解决一机多功能摆盘工作。
