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周转式高温RDT测试老化柜
提供环境温度至150℃测试环境，RDT接口980口，单独柜体，快拆式层板、大功率导电铜柱、配周转车，节约换线时间，提升生产效率和设备稼动率。
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群联PS3111 BGA TSOP测试架
BGA132球TSOP SSD芯片flash soting测试RDT 读写数据 芯片开卡 测试速度等等
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￥620.00
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M.2接口认盘测试工具
M.2接口老化测试板是用于NVMe SSD产品进行开卡、认盘测试连接的板卡，可用于慧荣、瑞昱、联芸主控的SSD测试设备。
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M.2转SATA接口 转接板
SATA协议M.2转接板 可以SATA SSD开卡, SATA SSD RDT,SATA老化，测试速度，Windows运行，NVME PCIE协议RDT
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DDR5 内存条SPD烧录器
编程功能 1、可选区块保护 2、自动设置产品序列号 3、自动设置生产日期 4、自动烧录校验拷贝一体功能 产品保修：一年保修，终身技术支持。
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DDR3 台式机转笔记本转接测试板
可用于DDR3老化测试，烧录SDP测试
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M.2 NGFF,mSATA转SATA接口转接板
SATA协议M.2 MSATA转接板 可以SATA NGFF MSATA SSD开卡, SATA SSD RDT,SATA老化，测试速度，Windows运行，NVME PCIE协议RDT
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FLASH芯片测试架（得一微）
FLASH开卡测试转接板是一个FLASH芯片开卡测试转接板，用于FLASH芯片开卡、功能老化测试等设备。
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金士通SSD智能测试仪
KST-600L集成了SATA 2.5、NGFF、PCIe M.2三合一接口，一次可测试560个口，并支持35种测试方案。全程自动化，K1-RDT-K2-BIT(H2)-K3只需插拔一次，将原本需要5个工作站的全流程测试整合到一个工作站中，提高生产效率，降低生产成本。
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双协议TYPE-C转M.2转接板
TYPE-C 3.1接口 NVME SATA双协议支持，防短路 兼容性强，3.3V 4A电流，可用于NVME M.2 SSD SATA,协议M.2开卡 量产测试 接上硬盘可当移动硬盘使用
