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(共43件相关商品)
  • 关键词 : 半自动化
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全自动多功能高速摆盘机
可用于市面上90%的MCU、主控IC、DDR、FLASH、黑胶体等规格芯片摆盘，可定制特殊规格芯片；兼容市面上常用的黑盘或吸塑盘，自动堆叠摆放，帮助封装测试厂商解决一机多功能摆盘工作。
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M.2转SATA接口 转接板
SATA协议M.2转接板 可以SATA SSD开卡, SATA SSD RDT,SATA老化，测试速度，Windows运行，NVME PCIE协议RDT
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mSATA转SATA接口 转接板
mSATA to SATA 固态硬盘转换卡是一个SSD多功能卡，它可以支持mSATA SSD。符合串行ATA rev3.0规范，向后兼容SATA-I I和SATA-I，数据传输速度可达6Gbps，可用于笔记本电脑、台式机、小型计算机、功能老化测试等设备。
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M.2转U.2接口 转接板
M.2 to U.2 固态硬盘转换卡是一个SSD多功能卡，它可以支持M.2 SATA协议SSD。符合串行ATA rev3.0规范，支持SATA-Express规范，向后兼容SAS，SATA-I I和SATA-I，数据传输速度可达32Gbps，可用于笔记本电脑、台式机、小型计算机、功能老化测试等设备。
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M.2转PCIe接口 转接板
M.2 to PCIe 固态硬盘转换卡 是一个SSD多功能卡，它可以支持M.2 SATA协议SSD。符合串行ATA rev3.0规范，支持SATA-Express规范，向后兼容SAS，SATA-I I和SATA-I，数据传输速度可达32Gbps，可用于笔记本电脑、台式机、小型计算机、功能老化测试等设备。
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U.2接口 RDT测试治具
U.2测试老化转接卡是用于SSD产品进行RDT测试连接的板卡，可用于RDT测试柜。
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U.2/PCIe 接口 RDT测试治具
U.2/PCIe接口RDT测试治具是用于SSD产品进行RDT测试连接的治具，可用于RDT高温箱设备。
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可程式高低温SSD老化试验箱
此设备用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温老化测试，可加速老化寿命试验的目的缩短产品或系统的寿命试验时间，测试其封装引脚、金属区域、芯片质量的可靠性。此设备可同时进行高温BIT测试、高低温交替BIT测试试验。
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FLASH芯片测试座（SMI）
132球SSD芯片flash soting测试RDT 读写数据 芯片开卡 测试速度等等
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FLASH芯片测试架（得一微）
FLASH开卡测试转接板是一个FLASH芯片开卡测试转接板，用于FLASH芯片开卡、功能老化测试等设备。