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分离式 SSD RDT测试老化柜
此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高温RDT老化测试，左右独立柜体，配置360W独立开关电源，12V转5V测试板卡，单柜可测300PCS，整机可测600PCS产品,提升设备使用率，测试数量支持定制。
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可程式高低温SSD老化试验箱
此设备用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温老化测试，可加速老化寿命试验的目的缩短产品或系统的寿命试验时间，测试其封装引脚、金属区域、芯片质量的可靠性。此设备可同时进行高温BIT测试、高低温交替BIT测试试验。
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常温BIT测试老化柜
设备可用于SSD固态硬盘进行批量性老化测试，电脑采用市场主流配置，单柜可同时测试48个产品，提升测试效率，整机美观大方，提升公司形象。（图片产品已配置了电脑，可接受客户提供电脑安装。）
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全自动多功能高速摆盘机
可用于市面上90%的MCU、主控IC、DDR、FLASH、黑胶体等规格芯片摆盘，可定制特殊规格芯片；兼容市面上常用的黑盘或吸塑盘，自动堆叠摆放，帮助封装测试厂商解决一机多功能摆盘工作。
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多接口 SSD 自动断电设备
主要用于SSD成品研发、验证、抽查测试。
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￥988.00
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PCIE开卡器 3.0 4.0 HUB 4 port
DC 5V 2A-3A 支持电脑大4PIN 电源输入口，PCIE port 支持自动精准定位，PCIE port 连接口独立分开轻松固定开卡与更换不影响主板，PCIE port 对应独立指示灯，PCIE port 对应独立电源开关
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抽拉式 SSD 高温 RDT 测试柜
此设备可用于SSD产品进行RDT高温老化测试。
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可程式高低温 SSD BIT老化试验箱
此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高/低温湿度老化测试，或用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温湿度老化测试。
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全自动芯片摆盘机
全自动芯片摆盘机，可自动区分正反面，自动分引脚方向(字的方向)，自动排料，自动上空料盘，自动收装好的料盘，适合各类芯片厂商，SMT生产线，检测机构，电子、电器、通讯等行业，可一人管理多台设备，大幅度提升摆盘效率。
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￥800.00
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M.2 to PCIe 固态硬盘老化、开卡治具（一拖四）
该扩展卡讲允许用户在台式机或者服务器上增加多个独立固态产品接口，支持热插拔，支持系统启动盘，加大散热片设计，性能稳定，广泛用于服务器、工控机、消费电子设备、存储设备等。
