PCIE开卡器 3.0 4.0 HUB 4 port
价格 ￥988.00
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PCIE SSD BIT测试柜
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周转式高温RDT测试老化柜
提供环境温度至150℃测试环境，RDT接口980口，单独柜体，快拆式层板、大功率导电铜柱、配周转车，节约换线时间，提升生产效率和设备稼动率。
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USB转SATA接口转接板（新一代主控兼容性更强）
详硕1153E 桥接芯片 3.0接口 带单独开关 防短路 兼容性强，单独加贴二极管防止倒灌电流，可用于SSD 量产开卡 接上硬盘可当移动硬盘使用
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全自动多功能高速摆盘机
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U.2接口 RDT测试治具
U.2测试老化转接卡是用于SSD产品进行RDT测试连接的板卡，可用于RDT测试柜。
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品牌 闪德半导体
可售卖地 全国
规格 200*200mm
型号 K1
设备功能 支持PCIE3.0 PCIE4.0盘开卡， 支持 2230 2242 2280 板型一键FW ， 支持SMI方案 PCIE全系列型号开卡， 支持联芸MP1602 INNOGRIT IG5208开卡， 支持PCIE 系统GHOST安装与拷贝，
设备特点 DC 5V 2A-3A 支持电脑大4PIN 电源输入口， PCIE port 支持自动精准定位， PCIE port 连接口独立分开轻松固定开卡与更换不影响主板， PCIE port 对应独立指示灯， PCIE port 对应独立电源开关，


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