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PCIE SSD BIT测试柜

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周转式高温RDT测试老化柜
提供环境温度至150℃测试环境,RDT接口980口,单独柜体,快拆式层板、大功率导电铜柱、配周转车,节约换线时间,提升生产效率和设备稼动率。

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高精度 SSD RDT高温测试柜
此设备广泛应用于PCB电路板、电源电子、电脑产品、通讯、生物制药、仪器仪表,航天材料、汽车部件、橡塑轮胎、太阳能逆变器等领域产品的模拟在高温环境下的老化筛选试验

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USB转SATA接口转接板(新一代主控兼容性更强)
详硕1153E 桥接芯片 3.0接口 带单独开关 防短路 兼容性强,单独加贴二极管防止倒灌电流,可用于SSD 量产开卡 接上硬盘可当移动硬盘使用

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全自动多功能高速摆盘机
可用于市面上90%的MCU、主控IC、DDR、FLASH、黑胶体等规格芯片摆盘,可定制特殊规格芯片;兼容市面上常用的黑盘或吸塑盘,自动堆叠摆放,帮助封装测试厂商解决一机多功能摆盘工作。

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U.2接口 RDT测试治具
U.2测试老化转接卡是用于SSD产品进行RDT测试连接的板卡,可用于RDT测试柜。
商品描述
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品牌
闪德半导体
可售卖地
全国
规格
200*200mm
型号
K1
设备功能
支持PCIE3.0 PCIE4.0盘开卡,
支持 2230 2242 2280 板型一键FW ,
支持SMI方案 PCIE全系列型号开卡,
支持联芸MP1602 INNOGRIT IG5208开卡,
支持PCIE 系统GHOST安装与拷贝,
设备特点
DC 5V 2A-3A 支持电脑大4PIN 电源输入口,
PCIE port 支持自动精准定位,
PCIE port 连接口独立分开轻松固定开卡与更换不影响主板,
PCIE port 对应独立指示灯,
PCIE port 对应独立电源开关,

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品类丰富
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