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                    PCIE SSD BIT测试柜
                    
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                    高精度 SSD RDT高温测试柜
                    此设备广泛应用于PCB电路板、电源电子、电脑产品、通讯、生物制药、仪器仪表,航天材料、汽车部件、橡塑轮胎、太阳能逆变器等领域产品的模拟在高温环境下的老化筛选试验
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                    USB转SATA接口转接板(新一代主控兼容性更强)
                    详硕1153E 桥接芯片 3.0接口 带单独开关 防短路 兼容性强,单独加贴二极管防止倒灌电流,可用于SSD 量产开卡 接上硬盘可当移动硬盘使用
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                    全自动多功能高速摆盘机
                    可用于市面上90%的MCU、主控IC、DDR、FLASH、黑胶体等规格芯片摆盘,可定制特殊规格芯片;兼容市面上常用的黑盘或吸塑盘,自动堆叠摆放,帮助封装测试厂商解决一机多功能摆盘工作。
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                    U.2接口 RDT测试治具
                    U.2测试老化转接卡是用于SSD产品进行RDT测试连接的板卡,可用于RDT测试柜。
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                    可程式高低温SSD老化试验箱
                    此设备用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温老化测试,可加速老化寿命试验的目的缩短产品或系统的寿命试验时间,测试其封装引脚、金属区域、芯片质量的可靠性。此设备可同时进行高温BIT测试、高低温交替BIT测试试验。
                
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                                    闪德半导体
                                
                                
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                                    规格
                                    30*160mm
                                
                                
                                    型号
                                    Z8
                                
                            
                                    设备功能
                                    JM583桥接芯片 USB3.0接口 带独立开关 防短路 兼容性强,单独加贴二极管防止电流倒灌,3.3V 4A电流,可用于NVME SSD开卡 量产测试 接上硬盘可当移动硬盘使用
                                
                            
                                    设备特点
                                    可用电脑供电,可切换外置电源供电最大支持4TBSSD开卡,支持慧荣SM2261 SM2269 SM2263 SM2262 联运1001 1002 等等
                                
                            

 
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                                  100%正品 
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                                  品类丰富 
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                                  售后无忧 
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周转式高温RDT测试老化柜
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提供环境温度至150℃测试环境,RDT接口980口,单独柜体,快拆式层板、大功率导电铜柱、配周转车,节约换线时间,提升生产效率和设备稼动率。
                    
                 
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群联PS3111 BGA TSOP测试架
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BGA132球TSOP SSD芯片flash soting测试RDT 读写数据 芯片开卡 测试速度等等
                    
                 
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银灿918GA 芯片 BGA soting测试架
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USB3.0接口 可测芯片TSOP BGA开卡测试H2测试等等
                    
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