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可程式高低温SSD老化试验箱
此设备用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温老化测试,可加速老化寿命试验的目的缩短产品或系统的寿命试验时间,测试其封装引脚、金属区域、芯片质量的可靠性。此设备可同时进行高温BIT测试、高低温交替BIT测试试验。
商品描述
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品牌
闪德半导体
可售卖地
全国
规格
高1700mm*宽800mm*厚800mm
型号
BIT192-CW-SATA
设备功能
SATA接口常温BIT测试
设备特点
192口SATA接口常温BIT测试柜,单口最大速度550MB/S,满载同时工作时最高速度550MB/S。 共8台电脑,每台电脑同时测试24个SSD。 可配合自动测试软件一键操作。 每个端口带保护座,座子坏了直接换保护板。 每个端子配12V转5V3A供电,提供充足的工作电流,并带短路过流过热保护
1、产品规格:
1.1 输入电压 AC 220V
1.2 电脑功率 2KW
1.3 BIT总功率 3KW
1.4 外部尺寸 高1700mm*宽800mm*厚750mm
1.5 整机重量 约100KG
2、BIT电气规格:
2.1 单口输出电压 DC 5.15±0.15V
2.2 单口输出最大电流 3A
2.3 电源输出接口 192PCS
2.4 单口最大速度 6Gbp/s(SATA3)550MB/S
2.5 满载同时工作最大速度 6Gbp/s(SATA3)550MB/S
2.6 显示器尺寸 21.5寸
2.7 KVM切换器 8PORT
2.8 电脑 8台
3、产品特点:
3.1 单口最大速度550MB/S,满载同时工作时最高速度550MB/S。
3.2 共8台电脑,每台电脑同时测试24个SSD。
3.3 可配合自动测试软件一键操作。
3.4 每个端口带保护座,座子坏了直接换保护板。
3.5 每个端子配12V转5V3A供电,提供充足的工作电流,并带短路过流过热保护。

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