可程式高低温 SSD BIT老化试验箱
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发货地 广东深圳
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高精度 SSD RDT高温测试柜
此设备广泛应用于PCB电路板、电源电子、电脑产品、通讯、生物制药、仪器仪表,航天材料、汽车部件、橡塑轮胎、太阳能逆变器等领域产品的模拟在高温环境下的老化筛选试验
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USB转SATA接口转接板(新一代主控兼容性更强)
详硕1153E 桥接芯片 3.0接口 带单独开关 防短路 兼容性强,单独加贴二极管防止倒灌电流,可用于SSD 量产开卡 接上硬盘可当移动硬盘使用
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全自动多功能高速摆盘机
可用于市面上90%的MCU、主控IC、DDR、FLASH、黑胶体等规格芯片摆盘,可定制特殊规格芯片;兼容市面上常用的黑盘或吸塑盘,自动堆叠摆放,帮助封装测试厂商解决一机多功能摆盘工作。
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U.2接口 RDT测试治具
U.2测试老化转接卡是用于SSD产品进行RDT测试连接的板卡,可用于RDT测试柜。
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可程式高低温SSD老化试验箱
此设备用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温老化测试,可加速老化寿命试验的目的缩短产品或系统的寿命试验时间,测试其封装引脚、金属区域、芯片质量的可靠性。此设备可同时进行高温BIT测试、高低温交替BIT测试试验。
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全自动芯片摆盘机
全自动芯片摆盘机,可自动区分正反面,自动分引脚方向(字的方向),自动排料,自动上空料盘,自动收装好的料盘,适合各类芯片厂商,SMT生产线,检测机构,电子、电器、通讯等行业,可一人管理多台设备,大幅度提升摆盘效率。
商品描述 联系我们
品牌 闪德半导体
可售卖地 全国
规格 W900×D1000×H1600mm(宽*深*高)
型号 PCT-500
设备功能 此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高/低温湿度老化测试,或用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温湿度老化测试。
设备特点 此设备主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。BIT测试电脑采用市场主流配置,单柜可同时测试48个产品,提升测试效率,整机美观大方,支持漆面、字符等非标定制化,提升公司形象。



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