周转式高温RDT测试老化柜
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周转式高温RDT测试老化柜
提供环境温度至150℃测试环境，RDT接口980口，单独柜体，快拆式层板、大功率导电铜柱、配周转车，节约换线时间，提升生产效率和设备稼动率。
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高精度 SSD RDT高温测试柜
此设备广泛应用于PCB电路板、电源电子、电脑产品、通讯、生物制药、仪器仪表，航天材料、汽车部件、橡塑轮胎、太阳能逆变器等领域产品的模拟在高温环境下的老化筛选试验
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USB转SATA接口转接板（新一代主控兼容性更强）
详硕1153E 桥接芯片 3.0接口 带单独开关 防短路 兼容性强，单独加贴二极管防止倒灌电流，可用于SSD 量产开卡 接上硬盘可当移动硬盘使用
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全自动多功能高速摆盘机
可用于市面上90%的MCU、主控IC、DDR、FLASH、黑胶体等规格芯片摆盘，可定制特殊规格芯片；兼容市面上常用的黑盘或吸塑盘，自动堆叠摆放，帮助封装测试厂商解决一机多功能摆盘工作。
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U.2接口 RDT测试治具
U.2测试老化转接卡是用于SSD产品进行RDT测试连接的板卡，可用于RDT测试柜。
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品牌 闪德半导体
可售卖地 全国
规格 H1850*W1500*D800
型号 RDT-108
设备功能 此设备可用于SSD产品进行RDT高温老化测试， "PID温度控制器，配SSR输出； 超温保护，接地保护，风机过载保护； 双开门，大面积钢化玻璃观察窗，可观察工作室状况，内置保温层； 一拖十SATA接口独立开关控制板卡； 履带式抽拉抽屉，12V 360W控制电源，耐高温线；标配一个周转架"
设备特点 测试容量大，快拆层板、插拔方便，产品水平插拔可以减少接口因产品重力造成的不良影响，提高板卡使用寿命；配备周转架可一次性拉出/推进测试产品，节约换线时间，极大的提升生产效率和设备稼动率。采用12V转5V电流供电方式，充分保证每个板卡供电的稳定性，不惧大批量大容量产品测试；产品区与供电电源隔离；多个高精度温度采集装置，每层有独立出风口及进风口保证温度更均匀；产品可根据要求设置上电测试温度；


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