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金士通SSD智能测试仪
KST-600L集成了SATA 2.5、NGFF、PCIe M.2三合一接口,一次可测试560个口,并支持35种测试方案。全程自动化,K1-RDT-K2-BIT(H2)-K3只需插拔一次,将原本需要5个工作站的全流程测试整合到一个工作站中,提高生产效率,降低生产成本。

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PCIE SSD BIT测试柜

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周转式高温RDT测试老化柜
提供环境温度至150℃测试环境,RDT接口980口,单独柜体,快拆式层板、大功率导电铜柱、配周转车,节约换线时间,提升生产效率和设备稼动率。

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高精度 SSD RDT高温测试柜
此设备广泛应用于PCB电路板、电源电子、电脑产品、通讯、生物制药、仪器仪表,航天材料、汽车部件、橡塑轮胎、太阳能逆变器等领域产品的模拟在高温环境下的老化筛选试验

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USB转SATA接口转接板(新一代主控兼容性更强)
详硕1153E 桥接芯片 3.0接口 带单独开关 防短路 兼容性强,单独加贴二极管防止倒灌电流,可用于SSD 量产开卡 接上硬盘可当移动硬盘使用

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全自动多功能高速摆盘机
可用于市面上90%的MCU、主控IC、DDR、FLASH、黑胶体等规格芯片摆盘,可定制特殊规格芯片;兼容市面上常用的黑盘或吸塑盘,自动堆叠摆放,帮助封装测试厂商解决一机多功能摆盘工作。
商品描述
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品牌
闪德半导体
可售卖地
全国
规格
H1850*W1500*D800
型号
RDT-108
设备功能
此设备可用于SSD产品进行RDT高温老化测试, "PID温度控制器,配SSR输出; 超温保护,接地保护,风机过载保护; 双开门,大面积钢化玻璃观察窗,可观察工作室状况,内置保温层; 一拖十SATA接口独立开关控制板卡; 履带式抽拉抽屉,12V 360W控制电源,耐高温线;标配一个周转架"
设备特点
测试容量大,快拆层板、插拔方便,产品水平插拔可以减少接口因产品重力造成的不良影响,提高板卡使用寿命;配备周转架可一次性拉出/推进测试产品,节约换线时间,极大的提升生产效率和设备稼动率。采用12V转5V电流供电方式,充分保证每个板卡供电的稳定性,不惧大批量大容量产品测试;产品区与供电电源隔离;多个高精度温度采集装置,每层有独立出风口及进风口保证温度更均匀;产品可根据要求设置上电测试温度;

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