BIT测试箱
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  • 关键词 : 半自动化
  • 重量 : 300kg
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可程式高低温 SSD BIT老化试验箱
此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高/低温湿度老化测试，或用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温湿度老化测试。