测试设备
(共3件相关商品)
  • 重量 : 300kg
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周转式高温RDT测试老化柜
提供环境温度至150℃测试环境，RDT接口980口，单独柜体，快拆式层板、大功率导电铜柱、配周转车，节约换线时间，提升生产效率和设备稼动率。
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可程式高低温 SSD BIT老化试验箱
此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高/低温湿度老化测试，或用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温湿度老化测试。
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分离式 SSD RDT测试老化柜
此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高温RDT老化测试，左右独立柜体，配置360W独立开关电源，12V转5V测试板卡，单柜可测300PCS，整机可测600PCS产品,提升设备使用率，测试数量支持定制。