BIT高温测试箱
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可程式高低温SSD老化试验箱
此设备用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温老化测试,可加速老化寿命试验的目的缩短产品或系统的寿命试验时间,测试其封装引脚、金属区域、芯片质量的可靠性。此设备可同时进行高温BIT测试、高低温交替BIT测试试验。